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シラフルオフェン試験法


1. 分析対象化合物
シラフルオフェン

2. 装置
紫外分光光度型検出器付き高速液体クロマトグラフを用いる。

3. 試薬、試液
総則の3に示すものを用いる。

4. 標準品
シラフルオフェン 本品はシラフルオフェン97%以上を含む。
沸点 本品の沸点は200°(減圧・0.0027kPa)である。

5. 試験溶液の調製
a 抽出法
(1) 穀類の場合
検体を420μmの標準網ふるいを通るように粉砕した後,その10.0gを量り採り,水20mlを加え,2時間放置する。
これにアセトン100mlを加え,3分間細砕した後,ケイソウ土を1cmの厚さに敷いたろ紙を用いてすり合わせ減圧濃縮器中に吸引ろ過する。ろ紙上の残留物を採り,アセトン50mlを加え,3分間細砕した後,上記と同様に操作して,ろ液をその減圧濃縮器中に合わせ,40°以下で約30mlに濃縮する。
これをあらかじめ10%塩化ナトリウム溶液100mlを入れた300mlの分液漏斗に移す。n−ヘキサン100mlを用いて上記の減圧濃縮器のナス型フラスコを洗い,洗液を上記の分液漏斗に合わせる。振とう機を用いて5分間激しく振り混ぜた後,静置し,n−ヘキサン層を300mlの三角フラスコに移す。水層にn−ヘキサン50mlを加え,上記と同様に操作して,n−ヘキサン層を上記の三角フラスコに合わせる。これに適量の無水硫酸ナトリウムを加え,15分間放置した後,すり合わせ減圧濃縮器中にろ過する。次いでn−ヘキサン20mlを用いて三角フラスコを洗い,その洗液でろ紙上の残留物を洗う操作を2回繰り返す。両洗液をその減圧濃縮器中に合わせ,40°以下でn−ヘキサンを除去する。
この残留物にn−ヘキサン30mlを加え,100mlの分液漏斗に移す。これにn−ヘキサン飽和アセトニトリル30mlを加え,振とう機を用いて5分間激しく振り混ぜた後,静置し,アセトニトリル層をすり合わせ減圧濃縮器中に移す。n−ヘキサン層にn−ヘキサン飽和アセトニトリル30mlを加え,上記と同様の操作を2回繰り返し,アセトニトリル層をその減圧濃縮器中に合わせ,40°以下でアセトニトリルを除去する。この残留物にn−ヘキサン5mlを加えて溶かす。
(2) 果実及び抹茶の場合
果実の場合は,検体約1kgを精密に量り,必要に応じ適量の水を量つて加え,細切均一化した後,検体20.0gに相当する量を量り採る。
抹茶の場合は,検体5.00gを量り採り,水20mlを加え,2時間放置する。
これにアセトン100mlを加え,3分間細砕した後,ケイソウ土を1cmの厚さに敷いたろ紙を用いてすり合わせ減圧濃縮器中に吸引ろ過する。ろ紙上の残留物を採り,アセトン50mlを加え,3分間細砕した後,上記と同様に操作して,ろ液をその減圧濃縮器中に合わせ,40°以下で約30mlに濃縮する。
これをあらかじめ10%塩化ナトリウム溶液100mlを入れた300mlの分液漏斗に移す。n−ヘキサン100mlを用いて上記の減圧濃縮器のナス型フラスコを洗い,洗液を上記の分液漏斗に合わせる。振とう機を用いて5分間激しく振り混ぜた後,静置し,n−ヘキサン層を300mlの三角フラスコに移す。水層にn−ヘキサン50mlを加え,上記と同様に操作して,n−ヘキサン層を上記の三角フラスコに合わせる。これに適量の無水硫酸ナトリウムを加え,15分間放置した後,すり合わせ減圧濃縮器中にろ過する。次いでn−ヘキサン20mlを用いて三角フラスコを洗い,その洗液でろ紙上の残留物を洗う操作を2回繰り返す。両洗液をその減圧濃縮器中に合わせ,40°以下でn−ヘキサンを除去する。この残留物にn−ヘキサンを加えて溶かし,正確に10mlとする。
(3) 抹茶以外の茶の場合
検体9.00gを100°の水540mlに浸し,室温で5分間放置した後,ろ過し,冷後ろ液360mlを500mlの三角フラスコに移す。これにアセトン100ml及び飽和酢酸鉛溶液2mlを加え,室温で1時間静置した後,ケイソウ土を1cmの厚さに敷いたろ紙を用いてすり合わせ減圧濃縮器中に吸引ろ過し,ろ液を1,000mlの分液漏斗に移す。次いでアセトン50mlを用いて三角フラスコを洗い,その洗液でろ紙上の残留物を洗う。洗液を上記の分液漏斗に合わせる。これに塩化ナトリウム30g及びn−ヘキサン100mlを加え,振とう機を用いて5分間激しく振り混ぜた後,静置し,n−ヘキサン層を300mlの三角フラスコに移す。水層にn−ヘキサン100mlを加え,上記と同様に操作して,n−ヘキサン層を上記の三角フラスコに合わせる。これに適量の無水硫酸ナトリウムを加え,時々振り混ぜながら15分間放置した後,すり合わせ減圧濃縮器中にろ過する。次いでn−ヘキサン20mlを用いて三角フラスコを洗い,その洗液でろ紙上の残留物を洗う操作を2回繰り返す。両洗液をその減圧濃縮器中に合わせ,40°以下でn−ヘキサンを除去する。この残留物にn−ヘキサン5mlを加えて溶かす。
b 精製法
(1) 合成ケイ酸マグネシウムカラムクロマトグラフィー
内径15mm,長さ300mmのクロマトグラフ管に,カラムクロマトグラフィー用合成ケイ酸マグネシウム5gをn−ヘキサンに懸濁したもの,次いでその上に無水硫酸ナトリウム約5gを入れ,カラムの上端に少量のn−ヘキサンが残る程度までn−ヘキサンを流出させる。このカラムにa 抽出法で得られた溶液(抹茶の場合は5ml)を注入した後,n−ヘキサン40mlを注入し,流出液は捨てる。次いでエーテル及びn−ヘキサンの混液(1:49)50mlを注入し,流出液をすり合わせ減圧濃縮器中に採り,40°以下でエーテル及びn−ヘキサンを除去する。この残留物にn−ヘキサン5mlを加えて溶かす。
(2) シリカゲルカラムクロマトグラフィー
内径15mm,長さ300mmのクロマトグラフ管に,カラムクロマトグラフィー用シリカゲル(粒径63〜200μm)5gをn−ヘキサンに懸濁したもの,次いでその上に無水硫酸ナトリウム約5gを入れ,カラムの上端に少量のn−ヘキサンが残る程度までn−ヘキサンを流出させる。このカラムに(1) 合成ケイ酸マグネシウムカラムクロマトグラフィーで得られた溶液を注入した後,エーテル及びn−ヘキサンの混液(1:99)40mlを注入し,流出液は捨てる。次いでエーテル及びn−ヘキサンの混液(1:24)50mlを注入し,流出液をすり合わせ減圧濃縮器中に採り,40°以下でエーテル及びn−ヘキサンを除去する。この残留物にアセトニトリル,水及びメタノールの混液(7:1:2)を加えて溶かし,正確に2mlとして,これを試験溶液とする。

6. 操作法
a 定性試験
次の操作条件で試験を行う。試験結果は標準品と一致しなければならない。
操作条件
カラム充てん剤 オクタデシルシリル化シリカゲル(粒径5μm)を用いる。
クロマトグラフ管 内径2〜6mm,長さ150〜300mmのステンレス管を用いる。
カラム温度 40°
検出器 波長230nmで操作する。
移動相 アセトニトリル,水及びメタノールの混液(7:1:2)を用いる。シラフルオフェンが約10分で流出する流速に調整する。
b 定量試験
a 定性試験と同様の操作条件で得られた試験結果に基づき,ピーク高法又はピーク面積法により定量を行う。

7. 定量限界
0.05 mg/kg

8. 留意事項
なし

9. 参考文献
なし

10. 類型
A


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